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蔡司三坐标
蔡司3D扫描仪
蔡司三坐标
光学测量技术和全场型面测量系统已成为几乎所有行业内的标准工具。在当今现代化产品开发和生产过程链中,通过 GOM 测量系统获得的测量数据是质量控制环节不可或缺的工具。
ZEISS SPECTRUM
此款桥式三坐标测量机满足了市场对经济入门级测量机的需求,继承了蔡司成熟的机器、探头和软件技术。SPECTRUM专为通用测量量身定制,同时可灵活应对您的各种需求。
ZEISS NEW CONTURA
CONTURA——来自蔡司的灵活、可靠和优秀的品质保证测量平台。最新一代测量机精度更高,可兼容多种光学式探头,从而实现更广的测量范围。优异的测量技术、蔡司CALYPSO测量软件以及高度优化的通用测量程序令CONTURA成为同类测量机中的标杆之作。
ZEISS PRISMO
PRISMO navigator在全球业界堪称高速扫描和至高精度在线测量机的代名词。PRISMO ultra的长度测量误差仅为0.5+L/500 μm, 是至高精度任务的完美选择。
ZEISS ACCURA
性能和精度是否是您的头等要务?凭借丰富的配置,ACCURA可根据您的需求——以及预算度身定制。此外,系统采用的模块式结构确保测量机拥有极佳的可扩展性。当用户对配置、探头和软件等需求发生变化时,可对ACCUR进行相应改造。
ZEISS MICURA
MICURA树立了紧凑型测量机的标杆。尽管尺寸较小,但在测量精度方面毫不逊色。MICURA配备蔡司VAST XT gold扫描探头与navigator技术。
ZEISS XENOS
XENOS可在各类要求最高测量精度的领域使用——从科研机构的测量实验室、航空和航天工业直至光学工业。这一高端测量机的测量精度达到技术极限,其测量范围近1立方米。
ZEISS DuraMax
加工和模具行业中,能够快速精确进行测量的能力和应对变化的灵活性变得至关重要。以往固定的量具和检验设备已不再经济实用。DuraMax 才是您理想的选择。
ZEISS O-INSPECT 322
O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身,因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备,O-INSPECT一机即可胜任。
蔡司3D扫描仪
GOM SCAN 1
这一个,有何不同?
这一个,更玲珑
轻便,可灵活移动
体积紧凑,外形小巧。
全新紧凑型GOM ATOS Q
ATOS Q ‒ 全新紧凑型ATOS
在工业行业, ATOS系统已成为光学三维测量领域的领导者。精密的光电子器件,工业级坚固测头设计和功能强大的运算软件是其成功的基础。
ATOS Q继承历代ATOS系统的优点,并在设计,技术和性能上进一步完善,打造出了一款继承ATOS优良DNA的多功能紧凑型系统。
ATOS Q作为一款可靠的多功能扫描仪,可完美解决复杂的测量和检测难题。紧凑的体积充分满足高端计量需求。
ATOS Q 特性
1、 全新...
蔡司 T-SCAN hawk 2
您的便携式解决方案,3D 扫描和检测
全新的 T-SCAN hawk是超便携式,超精准的手持激光扫描仪,并预装GOM inspect suite,强大的解决方案协助您完成每一步任务。从高质量的3D扫描数据获得精准的测量数据。它是为了简化生产流程。Hawk是为您量身打造的!
超轻便,超便携!
新的T-SCAN Hawk设计之初就考虑到了应用于各种场景。超轻便,超便携的手持解决方案支持您在实验室或生产现场从容的进行逆向工程和质量检测。
超精准,超精确!
蔡司T-SCAN CS
最新“一体化”激光扫描解决方案高端技术,性能强大德国T-SCAN CS手持式三维激光扫描仪将坐标测量技术提升到一个新的层面;三维扫描更快速,更直观,更精准!
创新的“模块一体化”设计理念,将各个元部件 (跟踪相机,手持式扫描仪,触摸式探针等)完美的组合成一体,使用更灵活,应用更广泛。被誉为三维光学检测领域“创新发明长青树”的ZEISS...
蔡司T-SCAN LV
模块化,个性化的系统配置测量范围大,测量精度高T-SCAN LV 手持式扫描系统,采用模块化系统配置,与最新跟踪仪结合使用,为用户提供个性化的应用解决方案。 T-SCAN LV 手持式激光扫描头,手持更轻便, 可高效率应用于大尺寸工件的无疲劳测量。还有 T-POINT LV 测量光笔可供选择,用于进行高速,简便的单点测量。T-SCAN LV /T-TRACK LV 手持式扫描系统与跟踪系统完美结合,提供超凡的测量范围,为用户提供三维数字化测量新体验。
蔡司T-SCAN Automated
使用 T-SCAN 激光扫描仪自动执行您的三维测量,实现最大效率和高数据质量!
使用创新的扫描技术轻松和快速地采集三维数据广泛应用于要求灵活使用和高生产率的领域该自动化测量配置具备独特的 T-SCAN 激光扫描仪功能,可为质量控制方面的重复测量作业提供极其高效的工作流程(例如完全集成的解决方案,适用于与生产周期同步的统计过程控制)。
Zeiss T-SCAN
移动计量室,三维数据采集直观
模块化 T-SCAN 系统助力实现快速检测:系统即刻捕捉零 件三维数据,无需任何准备工作。手持式 T-SCAN 激光扫 描仪与光学跟踪系统 T-TRACK ,T-POINT 接触式探针完美 结合,形成一套直观且高精度的三维计量解决方案。搭配 GOM Inspect Suite 软件套装,突破了其在三坐标测量 技术领域的新高度。
模块一体化概念
模块一体化概念和完整的激光扫描解决方案为各...
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